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科研院所研制的某些电子产品，具有批量小、价值高、研制周期短且设备可靠性指标要求高的特点。对小样本、高可靠性指标的电子产品，目前没有相应的标准来开展高加速寿命试验，而进行常规的可靠性验证试验耗时太长、成本高。对研制周期短的产品具有一定的局限性。因此，本文旨在探讨一种合适的可靠性试验方案来对此类产品的可靠性水平进行验证。