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集成电路老化效应会导致组合电路关键路径时延增加,不满足电路时序约束条件,从而引起时序错误,使得电路功能失效.为此,提出一种基于预采样的时序错误检测与自恢复方法,并设计了一个检测与纠错结构.首先利用系统本身时钟在时钟有效沿前后构建一个预采样区间和一个检测区间;然后在预采样区间内提前捕获输入信号;最后在检测区间内进行时序错误检测,如果检测电路发出报警信号,电路将会进行自纠错.仿真结果表明,相比于其他的检测结构,该结构在检测速度上平均提高了3.6倍;同时不需要调整时序,电路就可以实现自纠错与自恢复,且不会