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为了提高补偿中子仪器二级刻度的一次成功率,开展补偿中子仪器长短源距计数率比值的相关性分析。补偿中子仪器二级刻度的长短源距计数率的比值与校验源的长短源距计数率的比值存在一定的对应关系。通过与二级刻度数据进行比较,对长短源距计数率比值的相关性进行分析,找出二级刻度长短源距计数率的比值与校验源的长短源距计数率的比值的对应关系,指导补偿中子仪器二级刻度数据满足刻度标准。