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这份报纸的目的是基于在原处扫描电子显微镜学(SEM ) 在不同温度估计 high-Nb TiAl 合金的疲劳裂缝生长阀值观察。结果显示疲劳在房间温度与 8% Nb 内容击碎将近薄片状的 high-Nb TiAl 合金的生长阀值 K th 并且 750 ? 癩? ?数慲汬祯 ? 潣瑮楡楮杮搠晩敦敲瑮愠潭湵獴漠 ? 扎愠摮吠 ? 敷敲搠獥杩敮 ? 潴瘠牥晩 ? 桴 ? 慰瑴牥獮