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随着集成电路的功能越来越复杂，超大规模集成电路的动态老炼越来越成为一项困难的工作。传统针对超大规模集成电路的老炼多采用静态老炼方法，这种方法不能使电路内部的功能节点动作起来，无法保证老炼效果，因此能够实现电路内部所有功能模块全动态激励的TDBI技术越来越受到人们的关注。本文以国产多核处理器芯片为测试对象，为研究多核处理器芯片的TDBI方法进行了芯片老炼测试软硬件系统开发，解决了多核处理器老炼中大功率电源供电、图形存储空间不足等关键技术。