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通过全片层γ－ＴｉＡｌ基合金ＳＥＭ原位拉伸实验以及对裂纹前方滑移面及解理面上的应用力进行有限元计算，研究了片层界面在形核中的作用，当原裂纹与片层平行时，裂纹尖端滑移秕的分切应力较小，滑移相对困难，片层面上的正应力比其它解理面上的正应力大，从而解理裂纹优先沿片层界面形核；当裂纹与片层界面垂直时，裂纹尖端很多滑移系上的分切应力较大，滑移相对容易，片层面上的正应力远比其它解理面上的正应力小，从而裂纹优等