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文章介绍了近年来加速器质谱学中新发现的一种探测入射离子特征Ｘ射线技术，当用重离子轰击靶时，人们能够观测到这些离子的特征Ｘ射线的靶元素的Ｘ射线，由测定的入射离子的Ｘ射线可以用于分析入射离子的元素属性，如果入射离子的质量数已知，则通过其特征Ｘ射线的测定，也就可以确定其同位素属性，这对加速器质谱技术中的重同量异位素鉴别和离子束中的杂质成分的分析具有重要的意义，选择合适的离子速度和用作靶的元素，可以使入射