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采用熔融玻璃片法制样，建立了测定锆英砂中ZrO2，HfO2，SiO2，Al2O3,TiO2，Fe2O3，CaO，MgO主次成分的X射线荧光光谱分析方法。以标准物质与光谱纯氧化锆配制锆英砂标样系列，解决了锆英石标准样品不足的问题。采用理论d系数和经验系数相结合的方法校正基体效应，并对测量条件、熔融制样条件进行了探讨。方法用于锆英砂中主、次成分的测定，结果与化学分析法吻合，相对标准偏差（RSD，n=12）均小于2.5％，能满足锆英砂中各成分的检测要求。