【摘 要】
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提出了一种基于单元件干涉仪的计算机断层扫描方案,用于测量光纤三维折射率分布.该单元件干涉仪基于显微成像的原理,提高了系统的横向分辨率.利用快速傅里叶变换提取相位,采用滤波反投影算法重建了光纤的折射率分布.搭建了实验测量装置,实际测量了单模和多模光纤的折射率分布.结果表明,提供的方法可以简单快速地得到全光场数据,同时具有无损和非接触的优点,并且光路结构紧凑稳定,可为计算机断层扫描设备的小型化提供一种新的思路.
【机 构】
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四川大学 电子信息学院 激光微纳工程研究所,成都 610065;中国工程物理研究院 激光聚变研究中心,四川 绵阳 621900
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提出了一种基于单元件干涉仪的计算机断层扫描方案,用于测量光纤三维折射率分布.该单元件干涉仪基于显微成像的原理,提高了系统的横向分辨率.利用快速傅里叶变换提取相位,采用滤波反投影算法重建了光纤的折射率分布.搭建了实验测量装置,实际测量了单模和多模光纤的折射率分布.结果表明,提供的方法可以简单快速地得到全光场数据,同时具有无损和非接触的优点,并且光路结构紧凑稳定,可为计算机断层扫描设备的小型化提供一种新的思路.
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