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在入流马赫数MA为0.1-0.4范围内,选取不同的入流,逐一考察在可压缩导电介质中磁场重联的类型随磁雷诺数Rm的变化。大量的数值结果表明:在不同入流驱动下,磁雷诺数(Rm)均有临界值Rm^*存在,如果Rm〈Rm^*,等离子体系统逐渐趋于稳定的单X线重联;若Rm〉Rm^*,间歇性的次级撕裂产生了重复出现的磁结构,而且MA越大产生间歇性次级撕裂的临界值Rm^*越高,Rm^*与MA之间基本上符合线性关系