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在入流马赫数ＭＡ为０．１－０．４范围内，选取不同的入流，逐一考察在可压缩导电介质中磁场重联的类型随磁雷诺数Ｒｍ的变化。大量的数值结果表明：在不同入流驱动下，磁雷诺数（Ｒｍ）均有临界值Ｒｍ＾＊存在，如果Ｒｍ〈Ｒｍ＾＊，等离子体系统逐渐趋于稳定的单Ｘ线重联；若Ｒｍ〉Ｒｍ＾＊，间歇性的次级撕裂产生了重复出现的磁结构，而且ＭＡ越大产生间歇性次级撕裂的临界值Ｒｍ＾＊越高，Ｒｍ＾＊与ＭＡ之间基本上符合线性关系