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近年SPI存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中，但SPI属于串行接口，难以使用算法图形产生器自动产生地址，因此难以在通用自动测试仪上进行测试。本文分析了SPI存储器的结构特点和测试难点，提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI存储器算法图形自动产生的方法，并以SPIEEPROM芯片AT25HP512为例，实现了测试程序开发。实验证实，该方法可以克服SPI存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。