<正> X光衍射分析是涂料分析中重要的分析工具之一。然而,由于基体效应的影响,所测的某组分衍射线强度与混合物中该组分浓度不能用简单的数学关系式表示。因而定量的X光衍射分析的最佳方法仍然是早在1948年前发展起来的内标法。它需要对测定体系的每一欲测组分作标准曲线,才能得到精确的分析结果。标样的配制和标准曲线的制作是相当繁复而冗长的,使用范围又具有很大的局限性。涂料中颜料分组成复杂,含量变化大,通常的内标法难以满足要求。 1974年,F.H Chung在他一系列的报告中〔2.3.4〕提出了一个新型的X衍射多相定量分析方法。它较之内标法免除了制备标准曲线等繁复步骤。采用基体清洗概念和绝热原理推导得到没有基体因子的强度—浓度关系。方法具有简便、快速,不包含复杂计算,通用性好等特点,适合涂料分析的要求。