Effect of Ion Dose on Growth of Relaxed SiGe Layer on Ion Implantation Si Substrate

来源 :中国稀土学报:英文版 | 被引量 : 0次 | 上传用户:luo665
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Thin strain-relaxed Si0.8Ge0.2 films (57.6 nm) on the 30 keV Ar+ ion implantation Si substrates for different dose (1 × 1014, 5 × 1014, 3 × 1015 cm-2) were grown by ultra high vacuum chemical vapor deposition (UHVCVD) system.Rutherford back
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