具有低表面自由能有机介电薄膜的制备及表征

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通过自主开发的有机镀膜技术在Mg-Mn-Ce镁合金表面制备了具有低表面自由能和较高介电常数的有机纳米薄膜.利用X射线光电子能谱(XPS)分析了表面有机镀膜过程的反应机理,借助傅里叶变换红外(FT-IR)光谱进一步确认表面有机膜层的存在,采用接触角测量仪测定了有机薄膜的蒸馏水接触角和表面自由能变化,使用椭圆偏振光谱仪研究了薄膜的厚度,并借助精密阻抗分析仪评价了薄膜的介电性能.有机镀膜后镁合金表面形成了一层纳米级厚度的有机薄膜,接触角从基体的70.8°上升至150.5°,表面自由能从基体的
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