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随着市场竞争的发展,人们对头戴式耳机的性能、可靠性和成本有越来越强的要求。耳机头带设计的潜在失效模式和影响分析(FMEA)让设计师能够对系统进行定性分析,以便识别关键特性。夹紧力不当和头带疲劳失效是其中的两个主要的失效模式。这两个失效模式是由两个设计因子主导的:金属头带的厚度和抗拉强度。有限元分析(FEA)用于评估设计响应,即头带疲劳寿命和夹紧力。这些响应与优化模块相结合,呈现出有助于确定最佳金属带厚度和抗拉强度的解决方案,同时保持头带的性能指标;成本和可靠性。本研究旨在开发能够整合设计问题的识别、失效模