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以纯金属铟和五水氯化锡为原料，采用化学沉淀法制备氧化铟锡，用聚乙烯吡咯烷酮对铟锡氧化物进行表面修饰。用XPS、XRD、IR和TEM等对表面修饰的ITO纳米粉体进行结构和性能表征，并进行了分散性试验和电学性质的测试，结果表明：所制的ITO纳米粉体呈近似球形，平均粒径为20nm左右，无明显团聚，且结晶性良好；PVP成功链接到ITO纳米粉体表面，达到了表面修饰的作用，在分散溶剂中能稳定存在且不影响其导电性能。