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高可靠扫描部件是星载遥感仪器的关键部件,其可靠性验证试验的试验样本具有"小子样、零失效"的局限。工程中迫切需要制定合理可行的验证试验方案,在有限的试验周期内验证产品的可靠性是否符合指标要求。利用可靠度R(t)的验前信息,基于Bayes方法推导出了"小子样、零失效"情况下可靠性验证试验试验时间的算法;并给出了算例。结果表明,与传统算法相比在指标和样本量相同的情况下,新方法可减少试验时间,降低试验成本。