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介绍了一种分析获取干涉图的新方法 ,可使得计算机处理简单 ,我们可以利用此结论很容易地测量出薄膜的厚度
一种测量透明薄膜厚度的新方法
【摘 要】
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介绍了一种分析获取干涉图的新方法 ,可使得计算机处理简单 ,我们可以利用此结论很容易地测量出薄膜的厚度
【机 构】
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燕山大学电气工程学院
【出 处】
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传感技术学报
【发表日期】
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2003年01期
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