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本发明涉及辐射测量技术领域，具体涉及一种用于高纯锗探测器无源效率刻度的锗晶体尺寸自动调整方法。该方法在一个测量位置处获得多个不同E能量的γ射线全能峰探测效率测量值，然后依据探测产品说明书中晶体的原始尺寸，进行蒙特卡罗模拟计算，获得相应的各E能量γ射线全能峰探测效率计算值；对效率计算值与测量值进行误差分析，通过蒙特卡罗计算获得当前晶体尺寸下，晶体尺寸T、R和L对E能量γ射线的效率影响公式；设定计算效率期望改变百分比，建立方程组，求解获得新晶体尺寸，如此循环得到最终结果。本发明可以自动、快速、准确地确定高纯锗