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[期刊论文] 作者：付永朝,杨银堂,朱樟明,朱磊,
来源：电子器件 年份：2004
基于传统CMOS折叠共源共栅运算放大器的分析和总结,应用前馈补偿技术,实现了一种高性能CMOS折叠共源共栅运算放大器,不仅保证了高开环增益,而且还大大减小了运放的输入失调电...
[期刊论文] 作者：朱磊,杨银堂,朱樟明,付永朝,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2005
在对传统典型CMOS带隙电压基准源电路分析和总结的基础上,综合一级温度补偿、电流反馈技术,提出了一种1-ppm/ °C低压CMOS带隙电压基准源.采用差分放大器作为基准源的负...
[期刊论文] 作者：朱樟明,张春朋,杨银堂,付永朝,
来源：电子器件 年份：2003
分析了模拟硬件描述语言Verilog-A的特点及模型结构,根据仿真速度和仿真精度的折衷考虑,设计实现了模拟开关、带隙基准电压源及运放的Verilog-A行为模型。根据数模转换器(DAC...
[期刊论文] 作者：刘帘曦,杨银堂,朱樟明,付永朝,,
来源：电路与系统学报 年份：2005
分析了模拟硬件描述语言Verilog-A的特点,介绍了基于Verilog-A语言的行为级模拟电路设计过程。以锁相环(PLL)的子模块压控振荡器(VCO)的设计为例,建立了基于Verilog-A的行为...
[期刊论文] 作者：梁星,梁超,付永朝,高旭东,黎美,,
来源：中国集成电路 年份：2017
电荷泵在集成电路中有着广泛的应用。本文基于传统电荷泵系统驱动能力对工艺角和电源电压敏感的局限性,提出一种新颖的通过控制电荷泵的时钟频率来反相补偿驱动能力的电荷泵...
[期刊论文] 作者：刘海飞,付永朝,张晓晨,陈婷,高旭东,,
来源：中国集成电路 年份：2017
随着工艺不断的发展,芯片越来越容易被静电放电（ESD）冲击损坏。在动态随机存取存储器（DRAM）芯片中最容易被ESD损坏的模块就是接口（I/O）模块。本文针对DRAM接口模块被ESD损坏的两种......
[期刊论文] 作者：朱樟明,杨银堂,柴常春,殷和国,张春朋,付永朝,杨冰,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2004
基于TSMC 0.35 μm CMOS工艺设计了一种工作电压为3 V/5 V的14位100MSPS DAC.14位DAC在50Ω负载条件下满量程电流可达20 mA.当采样速率为100 MHz时,5 V电源的满量程条件下功...
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