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[期刊论文] 作者:信息产业部电子第五研究所赛宝信息研究中心, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2004
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2003年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文74.超薄氧化中击穿传导路径的缺陷生成引发磨损的证据(Evidence for Defect-Generation-DrivenWear-out of Breakdown Conduction Pa...
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