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[期刊论文] 作者:信息产业部电子第五研究所赛宝信息研究中心,
来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2004
近几年来,赛宝信息研究中心在科技情报、标准资料、专业期刊、网络技术、印刷等方面的各项业务都得到了很大的发展.今后仍将围绕五所的科研工作,从客户的利益出发,提供准确、...
[期刊论文] 作者:信息产业部电子第五研究所赛宝信息研究中心,,
来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2004
2003年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文74.超薄氧化中击穿传导路径的缺陷生成引发磨损的证据(Evidence for Defect-Generation-DrivenWear-out of Breakdown Conduction Pa...
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