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[期刊论文] 作者：唐邦福,钱兰珍,候列奇,费浩,,
来源：四川机械 年份：1982
本文介绍采用反相柱上色层技术使铀和铀中杂质分离。用光谱法测定杂质元素,可测定硼、镉、银、铅、铜、铁、铬、锡、镁、钙、镍、钼、锰、钒、铝等15个杂质元素。取样50毫克...
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