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[会议论文] 作者：刘杰镗;邝继顺;张亮;,
来源：第八届全国测试学术会议 年份：2014
为了减少集成电路测试数据和测试时间,提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法,采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,提高了相容概率,若...
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