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[会议论文] 作者:包泽民[1]龙涛[2]邱春玲[1]刘光达[1]王培智[1]田地[1]刘敦一[2], 来源:第五届中国二次离子质谱学会议 年份:2014
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)是一种大型科学仪器,其电气测控系统设计从架构上分为中央控制单元、系统总线、功能模块控制单元以及通信协议四个部分。本文以中国地质科学...
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