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[会议论文] 作者：朱荣华,李谦若,叶菁臻,
来源：高品质射频电缆技术研讨会暨光电线缆分会第八次专家组会议 年份：2009
阻抗和回波损耗作为射频电缆的重要指标一直是人们关注的对象，随着测试技术的不断发展，测试方法也随之不断变化。阻抗和回波损耗测量可以采用频域测量的方法，也可以采用时域测量......
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