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[期刊论文] 作者:司昊轩, 许昊, 杜慧瑶, 伊圣振, 王占山,
来源:强激光与粒子束 年份:2023
针对靶用高Z金属薄膜的无损检测需求,提出了一种通过超环面弯晶聚焦型X光单能成像器件,实现金属薄膜均匀性及面密度等参数精确标定的测量技术。该技术即通过高通量、高单能性成像,定量获取薄膜X光透过率及其空间分布,有效提升了面密度测量的精度,同时实现了对其均匀......
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