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[期刊论文] 作者：向李艳,邬齐荣,龚敏,陈畅,,
来源：电子与封装 年份：2007
传统的ESD保护电路设计主要基于尝试性和破坏性的实验，这种方法不利于产品的推出。文中提出使用ISE—TCAD工具对ESD保护电路进行模拟和优化，以快速地获取面积参数。并以某一典...
[期刊论文] 作者：向李艳,邬齐荣,龚敏,陈畅,
来源：现代电子技术 年份：2007
传统的片上静电放电（ESD）保护电路设计主要基于尝试性和破坏性的实验，这种方法不利于产品的推出。提出使用ISE—TCAD工具对ESD保护电路进行模拟和优化，以快速地获取面积参数。并......
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