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[学位论文] 作者：吴殿丞,
来源：中国科学院研究生院 中国科学院大学 年份：2012
随着集成电路工艺的发展,SoC的设计规模与复杂度不断增加,同时集成电路的测试也变得越发困难,所需要的测试数据量急剧增加。传统的自动测试设备由于其存储量、工作频率以及数...
[会议论文] 作者：吴殿丞,朱浩,王东辉,朝焕,
来源：中国科学院声学研究所第四届青年学术交流会 年份：2012
为了减少集成电路测试数据量，本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法。本文介绍了参考切片相容性分析的数学基础，并在此基础上以使用两个扫描切片作为参考切片......
[期刊论文] 作者：吴殿丞,朱浩,王东辉,侯朝焕,,
来源：网络新媒体技术 年份：2013
为了减少集成电路测试数据量，本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法。以使用两个扫描切片作为参考切片为例介绍了对该编码方法进行了介绍。当测试图形的切片与参......
[期刊论文] 作者：吴殿丞,杨骅,张铁军,王东辉,侯朝焕,,
来源：微电子学与计算机 年份：2010
针对超高频RFID标签芯片小面积、低功耗的要求,设计了一种符合EPC C1G2标准的数字基带处理器.在分析其功能基础上进行模块划分,提出了一种新的体系结构;论述并推导了标签工作所需的最低频率;设计了功耗管理模块,在降低功耗的同时,通过调度各个模块,使其正确地协......
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