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[期刊论文] 作者：唐雷钧,谢进,
来源：电子显微学报 年份：2000
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[期刊论文] 作者：唐雷钧,潘梦瑜,
来源：电子显微学报 年份：1995
对集成电路芯片特定部位作透射电镜分析，样品制备是非常关键的一步。为此，许多实验室发展了各种针对性的制样技术。通过吸取各种制样技术的长处，结合目前一般ＴＥＭ实验室的制样条件，本......
[期刊论文] 作者：吴谦会,郭苏珉,唐雷钧,,
来源：小城镇建设 年份：2017
社区采取围合加排屋布局的形式将多层、联排住宅和配套公建有机组合。其中多层住宅面积控制在90~140平方米,层数为五层;联排式住宅面积控制在250~300平方米,层数主要为二层,...
[会议论文] 作者：唐雷钧,谢进,陈一,郑国祥,宗祥福,
来源：电子显微学报 年份：2000
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[会议论文] 作者：陈一,曾伟,胡岗,唐雷钧,宗祥福,
来源：1998年全国半导体硅材料学术会议 年份：1998
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[期刊论文] 作者：谢进,江素华,王家楫,唐雷钧,宗祥福,
来源：半导体学报 年份：2001
对聚焦离子束 (FIB)的基本刻蚀性能进行了实验和研究 .通过扫描电镜对 FIB刻蚀坑的观测 ,给出了在不同材料上 (硅、铝和二氧化硅 ) FIB的刻蚀速率及刻蚀坑的形貌同离子束流大...
[期刊论文] 作者：唐雷钧,潘梦瑜,陈一,潘忠伟,宗祥福,
来源：电子显微学报 年份：1995
对集成电路（ＩＣ）芯片特定部位作透射电镜（ＴＥＭ）分析，样品制备是非常关键的一步。为此，许多实验室￣［１－３］发展了各种针对性的制样技术。通过吸取各种制样技术的长处，结合目前一般ＴＥＭ实验室的制样条件，本......
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