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[会议论文] 作者：宋兴涛[1]李良[2]任吉存[2],
来源：第三届全国微全分析系统学术会议 年份：2005
透射电镜(TEM)是量子点和一般纳米材料表征的最重要的手段之一,但TEM不能实现颗粒的分离与纯化.目前,一些传统的分离方法,诸如尺寸排阻色谱(SEC),平板凝胶电泳,等电点聚焦以...
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