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[学位论文] 作者：宋晨钰,
来源：合肥工业大学 年份：2021
随着集成电路相关技术的快速发展,芯片功能越来越复杂,特征尺寸不断减小。在这样的前提下,对集成电路测试技术的要求也在不断提高。为了保证测试质量,测试成本不断提高,测试难度也随之增大。传统的测试方法无法应对一些新出现的问题。为了解决传统测试中的诸多......
[期刊论文] 作者：于金星,易茂祥,鲁迎春,宋晨钰,梁华国,
来源：电子测量技术 年份：2020
L-N总线是研发自主智能建筑电气监控技术的成功尝试.针对L-N系统的有线布网特性,为解决监控系统后期应用终端的可扩展性,为L-N监控节点设计ZigBee无线通信子网,在监控系统底...
[期刊论文] 作者：张浩宇,应健锋,宋晨钰,王可可,易茂祥,
来源：计算机工程与应用 年份：2020
随着半导体产业的快速发展,硬件木马已经对集成电路的可靠性和安全性带来了巨大的隐患。现有的研究表明,电路的关键路径易受到硬件木马的攻击。针对电路的关键路径提出了预防...
[期刊论文] 作者：张浩宇, 应健锋, 宋晨钰, 王可可, 易茂祥,
来源：计算机工程与应用 年份：2019
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[期刊论文] 作者：易茂祥,宋晨钰,于金星,宋钛,鲁迎春,黄正峰,,
来源：郑州大学学报(工学版) 年份：2021
在集成电路测试过程中,随着测试时间的延长,会导致测试成本偏高。针对这种情况,提出一种基于随机森林的适应性测试方法。对于训练模型的芯片,通过计算基尼指数得出芯片参数测试过程中每个测试组对模型分类的重要程度,按照特征重要性对测试组进行重要度排序,筛选......
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