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[学位论文] 作者：宫昌萌,
来源： 年份：2006
Intel科学家Packan曾指出:若继续按照Moore定律缩小芯片的尺寸并同时提高其性能,高集成度芯片工作时产生的焦耳热会使芯片很快达到其热力学极限,因此,微电子器件的冷却问题早在80年代中期已成为国际微电子界和国际传热界的热点。由于散热功率密度小、体积大等缺......
[期刊论文] 作者：宫昌萌,陈震,吴洲,常国强,钱瑞明,陈云飞,,
来源：半导体学报 年份：2006
ZT值、最大制冷温差和响应时间是表征半导体制冷器性能的重要参数．文中介绍了一种能同时测量这三个参数的瞬态方法，并讨论了热沉对测试结果的影响，利用一个由恒流脉冲发生器和数......
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