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[学位论文] 作者：崔昌明,,
来源：湖南大学 年份：2007
随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路的测试成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向,在理论和...
[期刊论文] 作者：崔昌明,邝继顺,蔡烁,
来源：微电子学与计算机 年份：2007
数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法（Voltage Testing）稳态电流测试方法（IDDQ Test-ing）检测出来的。根据瞬态电流测试（IDDQ Testing）的思想，提出一种检测冗余故障的方......
[期刊论文] 作者：蔡烁,邝继顺,崔昌明,,
来源：微处理机 年份：2007
瞬态电流测试（IDDT Testing）作为传统电压测试和稳态电流测试（IDDQ Testing）方法的一个补充，越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不同的故障类型，基于瞬态电流测试的测试方法也......
[会议论文] 作者：蔡烁;邝继顺;崔昌明;,
来源：第四届中国测试学术会议 年份：2006
瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注.针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试产生方法也有所...
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