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[学位论文] 作者：应健锋,,
来源：合肥工业大学 年份：2004
随着集成电路的复杂度不断增大以及电路模块化设计方法的盛行,集成电路在设计和生产过程中产生了大量的未知位(X)。电路中X值的传播会严重影响整个测试过程的测试质量,X值的...
[期刊论文] 作者：徐辉,李丹青,应健锋,李扬,,
来源：传感器与微系统 年份：2017
纳米工艺下,负偏置温度不稳定性（NBTI）成为影响电路老化效应的主导因素.多输入向量控制（M-IVC）是缓解由于NBTI效应引起电路老化的有效方法,而M-IVC的关键是最佳占空比的求解.在充......
[期刊论文] 作者：张浩宇,应健锋,宋晨钰,王可可,易茂祥,
来源：计算机工程与应用 年份：2020
随着半导体产业的快速发展,硬件木马已经对集成电路的可靠性和安全性带来了巨大的隐患。现有的研究表明,电路的关键路径易受到硬件木马的攻击。针对电路的关键路径提出了预防...
[期刊论文] 作者：张浩宇, 应健锋, 宋晨钰, 王可可, 易茂祥,
来源：计算机工程与应用 年份：2019
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[期刊论文] 作者：姚瑶, 梁华国, 应健锋, 倪天明, 易茂祥, 黄正峰,,
来源：微电子学 年份：2004
与2D存储器相比,3D存储器能够提供更大的容量、更高的带宽、更低的延迟和功耗,但成品率低。为了解决这个问题,提出一种有效的3D存储器内建自修复方案。将存储阵列的每一行或...
[期刊论文] 作者：应健锋,梁华国,江悦,蒋翠云,李丹青,黄正峰,
来源：微电子学与计算机 年份：2020
在集成电路的设计和测试过程中,黑盒模块,未初始化的时序单元,时钟域交叉和A/D转换器的错误行为等情况常常会导致电路中未知值X的出现.电路中X值的传播会严重影响故障的激活...
[期刊论文] 作者：应健锋,梁华国,江悦,蒋翠云,李丹青,黄正峰,,
来源：计算机辅助设计与图形学学报 年份：2020
随着基于模块化的电路设计变得越来越复杂,未初始化的时序单元、设计中的黑盒、时钟域交叉以及模数转换器的错误行为等原因会导致电路中出现未知的逻辑值(X),降低电路测试集的测试覆盖率.为了快速确定电路中X值输入对测试覆盖率的影响,提出了一种基于机器学习的......
[期刊论文] 作者：江悦,梁华国,应健锋,周凯,马高亮,蒋翠云,鲁迎春,黄正峰,
来源：微电子学 年份：2020
受环境变化和老化的影响,物理不可克隆函数(PUF)会呈现输出不可靠的问题,这会降低它们在识别和认证应用中的接受度.改善PUF可靠性的现有方法包括更好的结构设计、后处理误差...
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