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[学位论文] 作者：张聪旸,,
来源：南京理工大学 年份：2014
光学干涉测试技术可以用于对光学元件面形、光学系统性能以及光学材料特性进行高精度测试,然而传统的单波长可见光移相干涉仪的测量范围受到其工作波长的制约,不能用于大面形...
[期刊论文] 作者：袁群, 高志山, 张聪旸, 成金龙, 朱波,,
来源：光学精密工程 年份：2013
基于Zernike多项式拟合的传统干涉绝对检验方法由于平滑了波面和丢失了中频成分，仅可以实现面形误差的绝对检验。本文提出利用旋转平移法来实现中频波面的干涉绝对检验。将被...
[会议论文] 作者：袁群,高志山,张聪旸,成金龙,朱波,
来源：2012年全国光学工程博士生论坛 年份：2012
提出了一种旋转平移方法，实现平面和球面的干涉绝对检验。被测件面形被分解成旋转对称成分和旋转非对称成分。通过N次旋转被测件，求解面形中的旋转非对称成分；通过平移被测......
[期刊论文] 作者：朱进,高志山,袁群,叶井飞,张聪旸,,
来源：应用光学 年份：2012
根据光学自由曲面数学描述复杂，但面形较为平滑的特点，提出一种新的基于子曲面分割和迭代的自由曲面光线追迹方法。通过离散点分割形成子曲面阵列，根据三角形内角和定理确定目标......
[期刊论文] 作者：叶井飞, 高志山, 刘晓莉, 王伟, 张聪旸,,
来源：光学学报 年份：2014
对于梯度变化较大的光学自由曲面,采用模式化方法对光学面整体重构,其重构精度受到限制,无法满足要求,而且曲面局部特性无法精确表征。针对以上问题提出了基于Zernike多项式...
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