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[会议论文] 作者：毛小莲,彭林庭,
来源：2015年全国天线年会 年份：2015
针对数字相控阵测试波束多、数据量大、测试时间长的问题,本文提出一种模块化多通道测试方案,可以提供多个相位相参通道,从而实现数字相控阵快速测试.与传统的测试方案相比,该方案测试精度高,效率高,并且可扩展.......
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