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[会议论文] 作者：李文军[1]孟程程[1]曾九孙[1]谢磊[2]蔡晋辉[1],
来源：第23届过程控制会议 年份：2012
提出一种基于核均值偏差检验(KMD)的传感器故障检测方法，从样本统计分布检验的角度对传感器故障检测问题进行研究。该方法的基本思路是将训练数据和测试数据投影到核空间，......
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