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[期刊论文] 作者：方江陵,陈荣钦,姚士冰,李稻根,周绍民,
来源：核技术 年份：1985
1981年Vertes等人采用正电子湮没技术研究镍电镀层的结构时,在退火研究中却忽略了对镍镀层的物理性能有重要影响的渗氢和杂质的化学聚团作用。本文论述用正电子湮没寿命谱法...
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