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[会议论文] 作者：杨袆罡[1]李铁柱[2]杜英超[3]李元景[1]刘以农[1],
来源：第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会 年份：2008
本文研究了利用高能X射线对被检测材料进行正电子湮没分析的技术。与传统使用正电子发射体(如放射源)不同，本研究能够在材料的内部产生正电子，从而能够实现对材料深处缺陷的检......
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