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[期刊论文] 作者：吴立成,吴郁,魏峰,贾云鹏,胡冬青,金锐,査祎影,,
来源：电子科技 年份：2013
动态雪崩问题是影响高压硅功率二极管如高压快恢复二极管(FRD)坚固性的一个主要因素。文中通过仿真计算,比较了高压FRD两种不同终端结构的动态雪崩特性。结果表明,横向变掺杂...
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