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[学位论文] 作者：桑春洋,
来源：南京信息工程大学 年份：2023
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[期刊论文] 作者：华国环,徐瀚文,桑春洋,张文锋,
来源：实验室研究与探索 年份：2022
设计了一款数字芯片故障检测仪,该检测仪能够方便、快捷地分析芯片的故障,并准确定位芯片的故障引脚.所设计的检测仪利用芯片内部各引脚的静电泄放保护机制,配合霍尔电流线圈检测芯片的短路和开路故障.同时根据芯片的功能定义,由MCU产生相应的激励信号,通过芯片......
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