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[学位论文] 作者:武慧薇, 来源:北京大学 年份:2004
电子计算机以及其他电子设备需要存储大量的数据,特别是电脑的普及、以及资料存储大容量的需求,使得半导体存储器产品获得了突飞猛进的发展。近年来随着信息技术的发展,对存储器......
[期刊论文] 作者:何胜宗, 武慧薇,, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2016
通过调研分析国内智能电能表在开发、物料检验、生产测试和运行等阶段的故障数据,总结了智能电能表的主要故障模式和可能的薄弱环节。通过对故障电能表的一些典型的失效案例...
[期刊论文] 作者:何胜宗,武慧薇,王有亮,, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2015
通过分析塑封器件的开封过程中使用传统的化学开封方法的关键过程和制约因素,并进行了相应的改进,设计出一种将激光烧蚀和化学腐蚀相结合的铜丝键合塑封器件的开封方法;通过...
[期刊论文] 作者:何胜宗,薛阳,武慧薇,刘丽媛,, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2015
铜丝键合器件因其在成本、导电和导热性能等方面的优势而得到了广泛的应用。但与此同时,它在实际应用中所暴露出的问题也不断地引起了人们的重视,铜丝键合器件的失效机理及其...
[期刊论文] 作者:周游,付玉娟,赵鹏,武慧薇,许实清, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2021
自“汉芯事件”以来,我国对国产电子元器件的国产化鉴定日益重视.在当前严峻且复杂的国际新形势下,杜绝电子元器件产品包装国产化是实现国防科技工业可持续发展的重要保障.针对国产电子元器件的包装国产化问题进行剖析,提炼包装国产化的识别方法,探讨如何构建包......
[期刊论文] 作者:薛阳,张蓬鹤,王雅涛,何胜宗,彭泽亚,武慧薇, 来源:电测与仪表 年份:2016
智能电能表批量上线之前如何评价其可靠性是一项重要的研究课题。阐述了产品典型失效特征以及当前用于考核电能表的可靠性特征指标的不足之处。从电能表的环境剖面和任务剖面...
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