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[期刊论文] 作者：汪永勇,侯俊,李梦思,薛彤,肖雄,,
来源：电子测量技术 年份：2021
对液晶屏表面进行缺陷检测时,其表面纵横分布的纹理会对检测精度造成干扰。提出了一种液晶屏缺陷检测方法,首先采用基于相对总变差模型的图像结构提取方法抑制液晶屏纹理,该模型对非统一或各向异性的纹理均适用,能有效分解液晶图像中的结构信息和纹理。提取后的......
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