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[会议论文] 作者：沈森祖, 方明,,
来源： 年份：2004
本文主要介绍了微电子计量的目的和任务、技术领域和地位、工作和研究范围、单位制、部分专业技术名词和概念以及现行的量值传递方案。供热心研究的人员参考。...
[会议论文] 作者：沈森祖, 方明,,
来源： 年份：2004
本文从具体的需求分析出发,讨论了国防微电子计量的重要性与特殊性、发展需求、现状与发展趋势,可供有关人员专参考。...
[期刊论文] 作者：周红,沈森祖,
来源：计算机与数字工程 年份：1996
具有三态特性的器件十分普遍。对三态器件的三态特性的测试也越来越显得重要但是在通常的测试程序设计中存在着这样一个缺点：常态真值表和三态真值表总是分开设计的，并且常态真......
[期刊论文] 作者：沈森祖,石坚,
来源：电子测量与仪器学报 年份：1998
分析测试在集成电路的测试中是十分重要的，解决分析测试的关键在于如何寻找优化的特征变量群。本文介绍了选择特征变量群的数学模型以及应用方法，并得出了结果。揭示了器件各变......
[期刊论文] 作者：周红,沈森祖,
来源：计算机杂志 年份：1992
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[期刊论文] 作者：沈森祖,石坚,
来源：航空计测技术 年份：2000
以ITS9000MX超大规模集成电路测试系统为背景，系统地研究了ITS9000系列测试系统的检定方法，重点描述了它的基本思想，原理和关键技术。...
[会议论文] 作者：周红,沈森祖,
来源：2002年全国电子测控工程学术年会 年份：2002
本文叙述了在微电子参量检测结果中引入测量不确定度的重要意义.重点讨论了在微电子测量过程中应考虑的影响因素以及标准不确定度的计算规则.最后,给出了微电子参量测量不确...
[会议论文] 作者：沈森祖,韩红星,
来源：2002年全国电子测控工程学术年会 年份：2002
本文阐述了对微电子电路自动测试与校准技术进行研究的必要性、主要研究内容和关键技术.并针对这些关键技术,提出了初步的解决方案或思路....
[会议论文] 作者：沈森祖,石坚,
来源：第九届中国集成电路测试学术年会 年份：1999
该文是ITS9000MX VLSI测试系统的计量检定研究报告， 描述了ITS9000MX计算检定的基本思想、原理和关键技术。...
[会议论文] 作者：沈森祖,石坚,
来源：第八届全国容错计算学术会议 年份：1999
在ＶＬＳＩ测试中，由于用户引辅助硬件产生的误差问题一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。该文以ＩＴＳ９０００ＭＸ为背景，介绍在ＶＬＳＩ测试中，对辅助硬件造成的误差的一种解除方法。在现有条件下，实现简单、......
[期刊论文] 作者：石坚,沈森祖,
来源：计算机与数字工程 年份：1998
本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。This article discusses the VLSI functional test automatic test generation algorithm, and gives...
[会议论文] 作者：沈森祖, 张明虎,,
来源： 年份：2004
本文主要介绍了国防微电子计量的量值传递和溯源体系设计、体系建设以及与体系建设相关的科研及开发技术。...
[会议论文] 作者：沈森祖, 张明虎,,
来源： 年份：2004
微电子参量的数值校准,和微电子参量的定量描述或精确测量都是同一含义。对于直流参量,数值校准比较容易。对于交流量,其难度随系统不同而不同。本文主要介绍了对交流参的数...
[期刊论文] 作者：郭卓梁,沈森祖,
来源：微电子测试 年份：1990
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[期刊论文] 作者：沈森祖,郭卓梁,
来源：计算机杂志 年份：1992
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[期刊论文] 作者：沈森祖,郭卓梁,
来源：计算机与数字工程 年份：1995
可编程逻辑器件自动测试操作平台是一个把ＰＣ机和Ｓ－１０测试系统连为一体，由若干应用软件支撑而成的软设备。主要用于ＰＬＤ的自动测试程序生成和自动测试。本文介绍ＰＬＤ自动测试操作平台的基本设......
[期刊论文] 作者：沈森祖,郭卓梁,
来源：计算机与数字工程 年份：1996
本文从一般计算机计算机的结构出发，结合互连互操作定义 系统地介绍了ＰＣ机和Ｓ－１０测试系统异种计算机之间互连互操作设计的基本思想，关键技术和实现方法。为了描述的方便性，完整性和严......
[期刊论文] 作者：郭卓梁,沈森祖,
来源：微电子测试 年份：1990
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[期刊论文] 作者：郭卓梁,沈森祖,
来源：微电子测试 年份：1990
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[期刊论文] 作者：沈森祖,郭卓梁,
来源：微电子测试 年份：1992
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