搜索筛选:
搜索耗时2.9599秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 9 篇相符的论文内容
类      型:
[期刊论文] 作者:潘启智,, 来源:化工管理 年份:2014
AlCl3在有机化学中有很重要的应用,本文将AlCl3作为催化剂,按照反应类型的分类,详细的介绍了AlCl3在有机化学反应中的重要性。研究结果表明,AlCl3作为催化剂比其他传统的催化...
[期刊论文] 作者:潘启智, 来源:化工管理 年份:2014
AlCl3在有机化学中有很重要的应用,本文将AlCl3作为催化剂,按照反应类型的分类,详细的介绍了AlCl3在有机化学反应中的重要性。研究结果表明,AlCl3作为催化剂比其他传统的催化...
[期刊论文] 作者:潘启智, 来源:华章 年份:2014
TRIZ是一种解决创新发明问题的理论和工具,它由前苏联发明家G.S.阿奇舒勒提出,并在世界范围内得到认可和广泛应用。TRIZ的核心内容之一是40个发明原理,这些原理来自于对大量专利......
[期刊论文] 作者:刘燕芳,潘启智, 来源:现代表面贴装资讯 年份:2013
【摘要】焊点锡洞是PWBA组装过程中的主要缺陷之一,大面积锡洞的存在会严重影响产品的使用性能及可靠性。本文以三个比较典型的实际案例为分析对象,采用金相切片分析技术,分析了......
[期刊论文] 作者:韩素萍,潘启智, 来源:现代表面贴装资讯 年份:2013
面对成因复杂的焊接不良,在有限的分析工具条件下,往住弄得人不知所措。本文通过五个由于PwB可焊性导致漏焊的失效案例,运用外观检查、金相切片、红外显微镜分析、扫描电镜分析......
[期刊论文] 作者:韩素萍,潘启智, 来源:现代表面贴装资讯 年份:2012
焊接不良是所有电子组装公司所无法避免的问题,有各式各样的失效模式,比如虚焊、不润湿、退润湿、桥连、锡珠、裂纹等。本文就虚焊的失效模式进行了讨论,运用外观检查、金相切片......
[期刊论文] 作者:陈曦, 张孟, 潘启智,, 来源:电子技术 年份:2004
现如今,功率MOSFET在电子电力设备中应用十分广泛,随着不断的发展,至今已成为工业领域最重要的器件之一,因此由于它而引起的整机失效也越来越常见。分析MOSFET失效的原因和后...
[期刊论文] 作者:刘燕芳, 郭海波, 潘启智, 王治平,, 来源:电子元件与材料 年份:2010
采用外观观察和金相分析方法,对绝缘电阻偏低的多层陶瓷电容器(MLCC,简称为C1)、以及无容值且端电极短路的MLCC(简称为C2),进行了失效原因分析,研究了这两种MLCC的失效机理。...
[期刊论文] 作者:姚彦,刘燕芳,于全耀,潘启智, 来源:腐蚀与防护 年份:2021
某产品中引脚经高温高湿试验,出现不同程度变色和腐蚀破损现象。采用宏观、微观形貌观察及能谱分析,镀层截面切片分析,对引脚表面镀层腐蚀失效原因进行分析。结果表明:镀层表面变色物质以铁的氧化物为主。镀层存在孔隙、裂纹等通道,使环境中氧气、水与基材接触,......
相关搜索: