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[期刊论文] 作者：呙流,徐伟春,潘武飞,李伟东,,
来源：中国集成电路 年份：2010
随着现代集成电路技术的发展，尤其是IP的大量使用，芯片的规模越来越大，系统功能越来越复杂，普通的EDA和FPGA仿真在速度和性能上已经无法胜任芯片仿真验证的要求，功能验证已经成为......
[期刊论文] 作者：黎步银,周东祥,潘武飞,曾亦可,
来源：华中科技大学学报(自然科学版) 年份：2002
根据PTCR生产中耐电压测试要求 ,研制了计算机控制的PTCR耐电压自动测试系统 .采用PC机、串行通信接口、并行打印接口、智能化仪表及各种外围接口电路 ,实现了PTCR耐电压性能的在线测试 .系统具有耐电压测试、阻值测量、自动分选等多种功能 ,提高了测试效率......
[期刊论文] 作者：潘武飞,周东祥,龚树萍,董浩斌,
来源：微计算机信息 年份：2001
通过对专用编/解码芯片MC145026/MC145027功能和工作原理的分析说明,介绍了采用单片机M68HC11实现编码器功能的方法.该方法充分利用了单片机的编程功能,有效的节省了I/O端口...
[期刊论文] 作者：潘武飞,周东祥,龚树萍,黎步银,
来源：仪表技术与传感器 年份：2001
针对PTCR生产中耐电压耐电流测试的需要 ,研制了计算机控制的PTCR耐电压耐电流自动测试系统。采用PC机、单片机、智能化仪表 ,实现了PTCR耐电压耐电流性能的在线测试及工艺参数、工艺设备的在线控制 ,为PTCR生产中耐电压耐电流测试工艺提供了一种有效的自动化手......
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