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[期刊论文] 作者：亢俊健,王大成,姚升武,焦长利,刘鹏鹏,安海忠,苏美开,
来源：激光杂志 年份：2002
本文介绍了一种新型半导体激光二极管 (LD)参数连续测试系统 ,它采用了高精度的数据采集技术、超强的数据处理技术及精密机械定位技术 ,可对LD的P -I和V -I曲线及相关参数进行连续测试、显示、存储、管理和打印 ,测量速度快 ,测量精度高 ,操作方便......
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