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[学位论文] 作者：王莎琳,,
来源：西安电子科技大学 年份：2006
电子器件的内部噪声(特别是以1／f噪声为代表的低频噪声)，是制约器件灵敏度和检测精度的一个关键指标，同时也是表征器件质量和可靠性的一个重要敏感参数。因此，噪声作为电子器件可......
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