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[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,
来源：分析科学学报 年份：1995
本文采用ＸＲＦ分析技术，用Ｃ语言设计运算软件，快速和精确地同时检测合金薄膜材料的质量厚度及组成含量，并呆计算合金膜的体积密度和线性厚度，检测结果的相对误差在３％左右。......
[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,
来源：电子科技大学学报 年份：1995
针对多层薄膜材料，用ＸＲＦ基本参数（ＦＰ）法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外，还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以......
[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1997
本文主要探讨用ＸＲＦ基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量，计算所需的基本参数都通过数学计算处理，用Ｃ语言设计编面测试软件，该法也适用于定量分析合金材料成分，稳定性和重现性好，高含......
[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1996
质量衰砬系数μｍ是Ｘ射线理论强度计算中一项必需而重要的基本参数，它包括元素本身，元素间和元素对某波长的质量吸收，本文选用四种拟合式，用Ｃ语言编制成程序，任选波长计算与实验值进行......
[会议论文] 作者：眭松山,魏军,
来源：’94秋季中国材料研讨会 年份：1994
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[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,
来源：中国激光 年份：1995
研究用ＸＲＦ基本参数法计算磁光盘的厚度和组成，铝层厚度用ＡＩＫα线计算，两层氨化硅厚度都采用ＳｔＫα线计算确定，磁光记录层采用ＦｅＫα，ＣｏＫα和ＴｂＬα线来确定其厚度及组成。列出了膜厚方程，可由计算机很快......
[会议论文] 作者：姬洪;眭松山;,
来源：第六届全国X射线分析学术会议 年份：1995
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[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,史青,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1997
本文主要探讨用ＸＲＦ基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量，计算所需的基本参数都通过数学计算处理，用Ｃ语言设计编成测试软件。该法也适用于定量分析合金材料成分，稳定性和重现性好，高......
[期刊论文] 作者：眭松山,魏军,史青,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1996
质量衰砬系数μｍ是Ｘ射线理论强度计算中一项必需而重要的基本参数。它包括元素本身、元素间和元素对某波长的质量吸收。本文选用四种拟合式，用Ｃ语言编制成程序；任选波长计算与实验......
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