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[期刊论文] 作者：H.Mizuno,秦仲波,,
来源：半导体情报 年份：1976
本文提出了一种场效应晶体管中电压控制的负阻的一般理论。按照源-栅电压、源-漏电压及夹断电压之间的关系,用数学的方法确定了负阻的必要条件。这里给出了对于场效应晶体管...
[期刊论文] 作者：崔恩录,秦仲波,
来源：半导体情报 年份：1998
介绍了微波功率管三种独立失效模式，论述了器件结温随工作条件变化的规律，指出功率管热失效更重要的因素是热斑，而不是平均结温和热阻。...
[会议论文] 作者：崔恩录,秦仲波,
来源：第十届全国半导体集成电路、硅材料学术会 年份：1997
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[期刊论文] 作者：崔恩录,穆杰,王于辉,秦仲波,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1996
1 引言3DG135型硅超高频晶体管是贯彻国家军用标准的高可靠半导体器件代表品种之一。开设本课题的目的是为国家重点工程建立提供高可靠性保证等级的半导体器件军品生产线。...
[期刊论文] 作者：崔恩录,穆杰,王于辉,秦仲波,
来源：半导体技术 年份：1996
较详细地叙述了３ＤＧ１３５在可靠性研究过程中，技术攻关的主要内容及所采取的工艺措施，并给出三个检验批次认证的实验结果。Described in more detail 3DG135 in the reliability of th...
[期刊论文] 作者：崔恩录,秦仲波,黄雒光,田建军,郭贺军,
来源：半导体情报 年份：1998
介绍了微波功率管三种独立失效模式，论述了器件结温随工作条件变化的规律，指出功率管热失效更重要的因素是热斑，而不是平均结温和热阻。The three independent failure modes...
[期刊论文] 作者：黄雒光,崔恩录,秦仲波,田建军,郭贺军,
来源：半导体技术 年份：1998
器件的热阻不是恒量。功率晶体管的结温不是空间均匀的；对于不同的工作点，有不同的热阻值；而热阻随结温的变化率的测定，对于保证功率晶体管安全工作，预测可靠程度是很重要的，红外扫......
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